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2025/04/01 1

[논문리뷰] A Survey of Repair Analysis Algorithms for Memories(3)

5. BIRA Algorithms Using HardwareExternal ATE(자동 테스트 장비)는 SOC(System on Chip) 내의 embedded memories에 쉽게 접근할 수 없다. 대신, SOC 메모리는 BISR(Built-In Self-Repair)을 통해 수리되며 BISR은 BIST(Built-In Self-Test)와 BIRA(Built-In Redundancy Analysis)를 결합한 방식이다. BISR은 추가적인 하드웨어를 필요로 하므로 BIRA 알고리즘은 external ATE에서 소프트웨어로 동작하는 RA 알고리즘보다 더 큰 area overhead를 요구한다.5.1 BIRA Algorithms with Non-Optimal Repair RateNon-optimal r..

DFT(Design for Testability) 2025.04.01
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