1. DFT(Desing for Testability)Design for Testability(DFT)란 Logic의 Physical Defect를 찾기 위한 Test를 하기 위한 Test 회로를 설계하는 것을 의미한다. Logic의 경우 단순히 입력 놓고 출력 pattern을 보면 Test가 될 거아니냐고 생각하기 쉽지만 그렇게 하면 너무 많은 경우의 수가 나오기 때문에 적절한 방법이 아니다. 게다가 수많은 Logic PIN을 다 체크하기에는 쉽지 않고 Pin, Pad 수의 제약이 따른다. 따라서 Logic의 경우 SCAN Test를 진행하게 된다.Logic Test의 경우 정형화된 규격하에 Test 회로등이 정의 되는데 IEEE std(Standard) 1499.1 이나 IEEE std 1500이 그..